Probe Unit
顯示器系列
探針單元是用於 FPD 測試的測試儀器。設置在探測器上，它接觸測試面板並傳輸來自測試儀的電信號。MJC 根據面板尺寸、分辨率和維護要求提供各種探針系統。
我們的探頭單元具有接觸穩定和易於維護的特點，可實現高度準確和可靠的測試，並有助於降低測試成本和提高生產率。
Category
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Probe Unit
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Film-type Probe
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Blade-type Probe
Probe Unit
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S/B Probe Unit
其待測物(Panel)，已預先將待測物內的pixels區分成N個區塊，並將其訊號串連到待測物上方之Pad，其S/B主要是針對這些Pad進行點測，測試成像之畫面主要有R、G、B、黑、白、灰階這六個成像，目前治具精度可測試的Pad大小為0.3，間距為0.5mm。
Blade-type Probe
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ZFB (Blade Type Probe)
將Probe Block與COF合為一體的構造在保養維護上更具優越性,對應多Pin且間隙極小的新型Probe Block。由於Block構造變更設計使高度不齊性降低,Probe位置精度因而提昇。採用此新構造成功地將Blade小型化,使得Blade的長度比原來的UFB降低約70%。
Technical Column
技術介紹
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