MEMS-SP

使用 MEMS PROBE垂直型之SPRING TYPE探針卡
  • product_icon_precise高精準測量
  • product_icon_low_noise低噪音
  • product_icon_one_hand 可單手操作
  • 適用於MICRO PROCESSOR、SoC DEVICE等FLIP CHIP規格之WAFER測試
  • FPD

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  • Probe Card

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  • Wafer Prober

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  • Tester

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  • Test Socket

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