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產品資訊
FPD顯示器系列
Semiconductor半導體系列
針對小PAD規格(BC Probe)
利用重力設計控制針尖滑動量,可減輕設備損害之針種。
高精準測量
低噪音
可單手操作
產品說明
對應薄膜、Low-k、PoP、POAA、CUP等PAD
針規可依據PAD構造及測試條件設計
*BC Probe:Bow Contact Probe
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