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半導體(探針卡)相關

U-Probe

 應用獨創MEMS技術MEMS Probe「Micro Cantilever」以及使用「薄膜多層配線基板」製造技術之探針卡。

特長

■可同時使用多數memory devices測定

■可對應12吋Wafer整體檢測

Vertical-Probe

垂直型針尖式探針卡

特長

■包含周邊探針排列組合,可對應多數量

■最適合測定高集積化・高速化邏輯・SoC Device

SP-Probe

 垂直型Spring Type探針卡。

特長

■適用於測定12吋Wafer整體檢測(NAND Flash)以及WLCSP檢測

MEMS-SP

使用 MEMS PROBE垂直型之SPRING TYPE探針卡

特長

■適用於MICRO PROCESSOR、SoC DEVICE等FLIP CHIP規格之WAFER測試

1.2.3.