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平面顯示器相關

TP Probe Unit (TMC)

 T/P目前共有4種類型,目前業界主要測試區分為電阻式及電容式二種,以電阻式為例,主要是由上、下二層玻璃的導通來達定位功能,故主要測試項目為,面板的電阻值及短路測試二項,現行治具精度可測試的Pad大小為□120um x500um,間距為300um。

S/B Probe Unit (TMC)

 其待測物(Panel),已預先將待測物內的pixels區分成N個區塊,並將其訊號串連到待測物上方之PadS/B主要是針對這些Pad進行點測,測試成像之畫面主要有RGB、黑、白、灰階這六個成像,目前治具精度可測試的Pad大小為□0.3,間距為0.5mm。

SFB/UFB

採用Blade型式ProbeProbe unit。對抗髒污與異物能力強,可針對每一Pin做更換。

ZFB (Blade Type Probe)

Probe BlockCOF合為一體的構造在保養維護上更具優越性,對應多Pin且間隙極小的新型Probe Block。由於Block構造變更設計使高度不齊性降低,Probe位置精度因而提昇。採用此新構造成功地將Blade小型化,使得Blade的長度比原來的UFB降低約70%

1.2.